2017/4/29-21

OPIE2017(Optics&Photonics International Exhibition)に出展いたします。
ぜひお立ち寄りいただきますようお願い申し上げます。

【会期】
2017年04月19日(水)～21日(金)　10:00-17:00

【会場】
パシフィコ横浜 展示ホールA
小間番号：G28

【展示内容】
◆紫外(UV)レーザ－加工機/マーカ(パネル展示)
波長266nm/355nmの2種類の紫外(UV)レーザによる熱影響が少ない高品質な微細加工/マーキングが行えます。

◆デジタルフォログラフィ検査機(実機、パネル展示)
レンズやガラス等透明サンプルの表・裏・内部欠陥検査が出来、ラインセンサで高速インライン検査も可能。

◆ワンショット3D検査機(パネル展示)
光干渉を応用した縞投影で、ミクロンレベルの高精度高さ計測や非拡散面の反り計測が出来る検査機を展示。

イベント公式サイトはこちら： https://www.opie.jp/index.jsp

ご来場を心よりお待ちしております。