タカノ株式会社は、2026年9月30日(水)~10月2日(金)に幕張メッセで開催される「第17回 高機能フィルム開発・製造展(FILMTECH JAPAN)」(第17回 高機能素材Week 内)に出展いたします。
今回の出展では、新発売の高速パターン付きフィルム外観検査装置をメインに、超高速無地フィルム外観検査装置「HAWKEYES ONE」、リアルタイム欠陥分類システム「TAKANO AI」、および電子デバイス・半導体向け検査装置をご紹介いたします。
5G、ビッグデータ、生成AIの普及にともない、電子部材向けフィルム・光学フィルム・エネルギー向けフィルムの市場は今後さらに拡大が見込まれています。一方で、生産ラインの高速化・回路の微細化が進むなか、微細欠陥の見逃し防止と検査工程の省人化は、各社に共通する課題となっています。タカノは、カメラ・画像処理ユニット・検査アルゴリズムまでを自社で開発する強みを活かし、これらの課題に対する解決策をご提案いたします。
ぜひこの機会に弊社ブースへお立ち寄りいただき、製品の詳細やサンプル評価についてご相談ください。

第17回 高機能フィルム開発・製造展(FILMTECH JAPAN)ブースイメージ
「第17回 高機能フィルム開発・製造展(FILMTECH JAPAN)」開催概要
注目の出展製品
1. 高速パターン付きフィルム外観検査装置

高速パターン付きフィルム外観検査装置
業界最速級(当社調べ)のRoll to Rollパターン印刷工程向け外観検査装置を新たに開発しました。高速高精細検査を得意とする自社製カメラと、新たに開発した画像処理システムでラインレート100klpsの検査速度を実現します。セラミックコンデンサ、電子部材など、5G・生成AIの普及にともない需要が高まる製品の印刷工程でのインライン検査に対応します。
繰り返しパターンを印刷したフィルムに対し、高速かつ高精細な検査で高レベルの傾向管理に貢献します。今回の展示会で詳しい情報を展示しますので、ぜひ会場でご覧ください。
2.超高速無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ONE

超高速無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ONE
自社製高性能カメラと画像処理ユニットの採用により、業界最速級(当社調べ)の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでも微細欠陥を検出するための高分解能設定が可能で、複数処理を並列化することで多彩な欠陥検出にも対応します。
- 高速ライン対応:ライン速度 50m/min で分解能 5μm、100m/min で 10μm、200m/min で 20μ
- 光学フィルム(偏光・拡散・位相差・反射防止)、電子部材向けフィルム(MLCC、CCL/FCCL、DFR 他)、エネルギー向けフィルム(セパレータ、各種金属箔)、基材フィルム(TAC、PET、PI)に対応
- 特徴量分類×AI自動欠陥分類により、高速検査中でもリアルタイムに欠陥分類が可能
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyesone/
その他の製品
無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ELITE

無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ELITE
リアルタイム欠陥分類システム TAKANO AI

リアルタイム欠陥分類システム TAKANO AI
半導体向け検査装置

半導体向け検査装置