出展背景

生成AIやデータセンターの急速な拡大、5Gの普及と6Gへの発展、そしてCASE（Connected, Autonomous, Shared & Services, Electric）分野の成長により、半導体関連、電子部品・電子部材、ディスプレイ等で用いられる高機能フィルム材料の需要が飛躍的に高まっています。
このような市場環境において、高品質を維持しながら生産効率を向上させることが製造現場の喫緊の課題となっています。タカノは、高速かつ高精細な検査技術により、お客様の生産性向上と省人化、品質保証の強化に貢献してまいります。

「第16回 高機能フィルム展 -FILMTECH JAPAN-」概要

会期	2025年11月12日（水）～14日（金）
開催時間	10:00～18:00（最終日のみ17:00終了）
会場	幕張メッセ
タカノブース番号	1ホール 4-34
主催	RX Japan株式会社
出展社数	約1,050社（予定）
来場者数	50,000名（予定）
公式サイト	https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/visit/film.html ※事前登録で入場料無料となります。来場者事前登録サイトよりお申し込みください。 ▽展示会招待券お申込み（無料）サイト https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/register.html

出展製品のご案内

1.フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ

Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

超高速無地フィルム外観検査装置 Hawkeyes one ※実機デモンストレーション実施

• 自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス（当社調べ）の検査速度を実現
• 高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能設定が可能
• 複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出を実現

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/

無地フィルム検査システム Hawkeyes ELITE

• 自社製高機能カメラを採用し、高速ラインに対応
• 柔軟性のあるシステムで、様々な形状の製品に対応可能

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ccd/

パターン付フィルム検査システム Hawkeyes PATTERN

• 複雑配線パターンやメタルメッシュパターン、電池電極など様々な材質形状のワークを検査
• パターン形状や対象欠陥に合わせて適切な画像処理を選択

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/pattern/

2. リアルタイムAI自動欠陥分類システム TAKANO AI ※実機デモンストレーション実施

パターン付フィルム検査システム Hawkeyes PATTERN

• AIを用いた欠陥分類機能により、従来の特徴量分類と比較して分類正答率を飛躍的に向上
• リアルタイムに実行することで、フィードバック・フィードフォワードを迅速化
• 生産現場の品質管理を大幅に効率化

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ai/

3. 【新 コラボレーション企画】高速フィルム検査 × フィルム全面膜厚測定

本コラボ装置は、欠陥検査と膜厚測定をシームレスに統合し、インラインで膜厚分布と欠陥発生傾向の相関を可視化。前工程への迅速なフィードバックにより、工程改善のリードタイムを短縮し、歩留まりの改善に寄与します。

• 統合可視化機能
  フィルム全面の欠陥位置と膜厚分布を一画面で重ね合わせ、品質チェックの工数を大幅に削減。
• リアルタイムフィードバック
  欠陥と膜厚のトレンド情報を瞬時に前工程へ反映し、歩留まりロスを最小化。
• 予兆検知フィードフォワード
  欠陥傾向と膜厚変動から先読みし、異常発生前にプロセス最適化。
• シームレス同時立ち上げ
  検査装置と膜厚測定装置を同時導入も可能。生産停止期間を短縮。

4. 半導体向け検査装置 Vi、WMシリーズ

ウェーハ表面検査装置 WMシリーズ

• 
  WM シリーズ：WM-7R+
• 
  WM シリーズ：WM-10R+

• 半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システム
• ナノレベルのパーティクル（異物）を検出可能で、国内外にて数多くの採用実績
• 光源に半導体レーザーを使用し、ランニングコストを軽減
• WM-7SR+、WM-10R+は国際的な安全認証を取得した最新モデル

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

ウェーハ外観検査装置（Viシリーズ）

• ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査
• ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案
• 微細化が進む半導体デバイスの品質保証に貢献

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/

5. 検査装置のメンテナンスサービス

• 予防保全から故障対応まで、包括的なメンテナンスサービスを提供
• 装置の安定稼働と長寿命化をサポート

ご来場のみなさまへのメッセージ

当日は、実際に動作する超高速無地フィルム外観検査装置 Hawkeyes oneおよびリアルタイムAI自動欠陥分類システム TAKANO AIのデモ機をご用意しております。実機での検査スピードと精度をぜひ会場でご体感ください。さらに実機デモンストレーションに加えて、高速フィルム検査とフィルム全面膜厚測定を掛け合わせた新たな展示品もございます。

技術革新が進む自動車業界や電子部材向けフィルム市場を中心に、高速で高精細な検査の実現と省人化への取り組みについて、専門スタッフが詳しくご説明いたします。また、お客様の具体的な検査課題についてのご相談も承ります。
ぜひ、タカノブース（1ホール 4-34）へお立ち寄りください。