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12月14日から16日に開催される 「SEMICON Japan 2022」に出展します
2022.11.15
弊社は2022年12月14日(水)~16日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2022」に出展いたします。
展示ブースイメージ
今回は、半導体向け検査装置のほか、フィルム外観検査装置などを出展いたします。
ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。
出展製品
1.ウェーハ表面検査装置(WMシリーズ)
半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
ナノレベルのパーティクル(異物)を検出することが可能で、歩留まり管理などの品質保証のため、1985年に発売、現在も国内外にて数多く使用していただいております
URL:
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/
2.ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ)
ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。
ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、6種類のラインナップからご提案できます。
Viシリーズ対応 不具合例
URL:
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/
「SEMICON Japan 2022」概要
開催日程:
2022年12月14日(水)~16日(金)
開催時間:
10:00~17:00
開催場所:
東京ビッグサイト(東展示棟)
出展ブース番号:
2840(東1・2・3ホール)
公式HP:
https://www.semiconjapan.org/jp
ご来場の際には、事前登録(無料)が必要です。来場者事前登録サイトよりお申し込みください
▽来場者事前登録サイトはこちら
https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register
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