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お知らせ/展示会情報


12月7日から9日に開催される 「第32回 ファインテックジャパン」に出展します

2022.11.08


弊社は2022年12月7日(水)～9日(金)に幕張メッセで開催される「第32回 ファインテックジャパン」に出展いたします。
画像計測システム展示会出展のイメージ
展示ブースイメージ

今回は、フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズのほか、半導体向け検査装置、リアルタイムAI自動欠陥分類システムなどを出展いたします。
ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。
出展製品
フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ
Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。
1.無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one

フィルム外観検査装置：Hawkeyes one

自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス(当社調べ)の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/
2.無地フィルム検査システム Hawkeyes ELITE

フィルム外観検査装置：Hawkeyes ELITE

自社製高機能カメラを採用し、高速ラインに対応かつカスタマイズ性に優れている為、多彩な欠陥検出はもちろん、様々な形状の製品に対応可能です。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ccd/
3.パターン付フィルム外観検査装置 Hawkeyes PATTERN

フィルム外観検査装置：Hawkeyes PATTERN

ワークにあわせた光学系選択により、複雑配線パターンやメタルメッシュパターン、電池電極などの様々な材質形状のワークを検査することができます。
また、パターン形状や対象欠陥に合せて適切な画像処理を選択し、欠陥を検出します。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/pattern/
4.リアルタイムAI自動欠陥分類システム TAKANO AI

リアルタイムAI自動欠陥分類システム：TAKANO AI

AIによるリアルタイムの欠陥分類機能をお手元に。
従来の特徴量によるパラメータ入力ではなく画像を振り分けるだけでリアルタイムでの欠陥分類が可能に。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ai/
「第32回 ファインテックジャパン（高機能素材Week2022）」概要
開催日程： 2022年12月7日(水)～9日(金)
開催時間： 10:00～18:00　（最終日のみ17：00終了）
開催場所： 幕張メッセ（千葉県千葉市美浜区中瀬2-1）
出展ブース番号： 35-36（5ホール）
公式HP： https://www.material-expo.jp/hub/ja-jp/about/ftj.html


事前登録で入場料無料となります。来場者事前登録サイトよりお申し込みください。
▽来場者事前登録サイトはこちら
https://entry.reedexpo.co.jp/expo/FPD/?lg=jp&tp=inv&ec=FTJ&em=web&_ga=2.138471539.1187164677.1666243965-743260051.1664356791

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