1. ホーム
  2. 企業情報
  3. 事業フィールド
  4. 画像検査・修正装置

1987年に独自ブランドの画像処理検査装置を発売して以来、機能向上と用途の拡大を図り、現在では、「ICパッケージ検査システム」「原子間力顕微鏡・その他測定装置」「フラットパネルディスプレイ検査装置」「Web検査装置」「太陽電池マイクロクラック検査装置」などのハイテク製品を数多くラインナップしております。

タカノ株式会社画像計測グループの主要製品

このページの先頭へ

外観検査装置

写真:外観検査装置

液晶パネル、プラズマディスプレイ用のパターン付き基板を自動検査・欠陥判定をし、量産の品質工程管理を行う装置です。

原子間力顕微鏡(AFM)

写真:原子間力顕微鏡(AFM)

原子間力顕微鏡は、高精度に膜圧表面の粗さ等の測定が可能な三次元計上測定装置です。分析用途はもちろん、品質管理・検査ツールとして製造ラインでの運用が可能です。

Web検査装置

写真:白色干渉式高さ測定装置

Roll to Roll搬送にて、シート/フィルム/金属箔等を高速・高精細に自動検査・判定を行い、品質工程管理を行う装置です。

太陽電池ウェハマイクロクラック検査装置

写真:太陽電池ウェハマイクロクラック検査装置

赤外レーザー光を用い、多結晶シリコンの粒界模様による影響を受けない高精度な欠陥検出およびウェハ内部の欠陥検出が可能であり、誤検出や検出の見逃しを極小化できます。

タカノのシステム力が、検査にとどまらない新たなプロセス管理を提案します

このページの先頭へ

 タカノは、外観検査システムのトータルメーカーとして、お客さまのラインコンセプトに対応した検査・計測・修正装置をカスタマイズにより提供し、理想の生産ラインを実現します。
 現在の製造プロセスでは歩留まり改善や品質管理が非常に重要な課題となっており、検査装置には生産ライン全体を管理できる「システム力」が必須となっています。当社ではこのシステム力に欠かすことのできない「画像処理」「光学」「微細計測」、そして「システム構築」の4つのコア技術を独自の技術として長年にわたり追求し開発してきました。お客さまのニーズに応じた最適なシステムを提供するため、これらの技術をすべて使いながら装置導入後の改善・改造と言った将来的なサポートも視野に入れたカスタマイズの検討を重ねます。
 フラットパネルのプロセスをはじめ、半導体やPCB、次世代エネルギーなどさまざまな分野で当社の検査装置の活躍の場をいただいておりますが、みなさまから私どもに寄せられる厚い信頼は、これらの商品がもたらしてきた高い付加価値を裏付けるものと確信しています。これらもお客さまのニーズに応えるために、タカノでは一つ先の未来を見つめて挑戦し続けます。

画像検査・修正装置事業に関するお問い合わせ

タカノ株式会社 画像計測グループ

お問い合わせページへ

所在地
〒101-0041 東京都千代田区神田須田町1-13
電話
03-3253-8261